Год выпуска: 2014 Автор: Ярослав Белехов Издательство: LAP Lambert Academic Publishing Страниц: 288 ISBN: 9783659500527
Описание
В современном полупроводниковом материаловедении всё чаще требуются технологии цифровой обработки сигналов для повышения чувствительности и информативности методов диагностики структурного совершенства монокристаллов. Задача особенно актуальна для методов, предоставляющих наглядное изображение внутренней структуры кристалла. Представленная монография посвящена вопросу применения вейвлет-анализа в цифровой обработке изображений структурных дефектов монокристаллических полупроводников. В качестве экспериментальной базы, рассматриваются методы рентгеновской топографии и поляризационно-оптического анализа. Представлено поэтапное построение методики и алгоритмов вейвлет-обработки. Изложены основные аспекты вейвлет-обработки в задачах устранения фоновой неоднородности поляризационно-оптических изображений и зернистого контраста рентгеновских топографических снимков. Работа основывается на материалах диссертационного исследования, посвящённого данному вопросу и проводившегося с 2002 по 2006...