Год выпуска: 2008 Автор: С. Дж. Б. Рид Издательство: Техносфера Страниц: 240 ISBN: 978-5-94836-177-2, 0-521-84875-X
Описание
В предлагаемой книге описываются рентгеноспектральный микроанализ и растровая электронная микроскопия применительно к решению геологических задач. Рассмотрены основы взаимодействия ускоренного пучка электронов с образцом и оборудование для ЭЗМА и РЭМ, основные принципы формирования изображения в РЭМ, принципы работы рентгеновских спектрометров с энергетической (ЭДС) и волновой дисперсией (ВДС). Подробно изложены процедуры качественного и количественного рентгеноспектрального анализа. Книга предназначена для студентов-геологов и аспирантов, работников заводских лабораторий, а также как дополнительный материал для специалистов, использующих ЭЗМА и РЭМ для решения геологических задач. Чтобы сделать книгу доступной, в ней опущены излишние технические подробности.
Уважаемая Марина, я действительно заказывала бесплатные материалы на Вашем сайте. Огромное спасибо за присланные мне материалы, если честно, я первый раз пользуюсь таким видом услуг и была несколько удивлена:) Еще раз большое спасибо за беспокойство.