Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применения

Похожие книги

1. Мангушев Д.Ф., Янышев И.А., Иванов Д.А., Колпаков С.В. Бизнес и безопасность в России. Практическое пособие для малого, среднего и крупного бизнеса. – М.: ГУП `Полиграфическо-издательский комбинат`, 2001. – 400 с.
   
2. С.А. Жданов. Методы и рыночная технология экономического управления. – М.: Дело и Сервис, 1999. – 272 с.
   
3. В.И. Колеснев, И.В. Шафранская. Экономико-математические методы и моделирование в землеустройстве. Практикум. – М.: ИВЦ Минфина, 2012. – 392 с.
   
4. С.Дж. Б.Рид. Мир наук о земле. Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии. – М.: Техносфера, 2008. – 240 с.
   
5. В.И. Колеснев, И.В. Шафранская. Экономико-математические методы и моделирование в землеустройстве. Практикум. – М.: ИВЦ Минфина, 2007. – 320 с.
   
6. Б.Нолтинг. Новейшие методы исследования биосистем. – М.: Техносфера, 2005. – 256 с.
   
7. М.И. Грифф, С.В.Карасев, А.В. Рубайлов. Строительные машины мира. Машины для уплотнения дорожных и аэродромных покрытий. Асфальтоукладчики, дорожные катки и виброплиты. Справочник. Выпуск 14 (комплект из 3 книг). – М.: Издательство Ассоциации строительных вузов, 2008. – 848 с.
   
8. Атлас ультраструктуры древесных полуфабрикатов применяемых для производства бумаги. – М.: Лесная промышленность, 1984. – 232 с.
   
9. Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ. – М.: Техносфера, 2009. – 208 с.
   
10. Д.Уайтхауз. Метрология поверхностей. Принципы, промышленные методы и приборы. – М.: Интеллект, 2009. – 472 с.
    
11. Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применения. – М.: Бином. Лаборатория знаний, 2013. – 600 с.
    
12. А.Г. Колмаков, С.М. Баринов, М.И. Алымов. Основы технологий и применение наноматериалов. – М.: ФИЗМАТЛИТ, 2013. – 208 с.
    
13. Г.Н. Гафурова, И.И. Родионов. Экспорт продукции военного назначения. Использование методов и подходов поведенческих финансов в маркетинге и продвижении. – СПб.: Алетейя, 2013. – 190 с.
    
14. А.С. Комаров, Д.В. Крапухин, Е.И. Шульгин. Управление техническим уровнем высокоинтегрированных электронных систем (научно-технологические проблемы и аспекты развития). – М.: Техносфера, 2014. – 240 с.
    
15. В.М. Буренок, В.Г. Найденов, В.И. Поляков. Математические методы и модели в теории информационно-измерительных систем. – М.: Машиностроение, 2011. – 336 с.
    
16. Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применения. – М.: Бином. Лаборатория знаний, 2016. – 600 с.
    
17. И.Я. Лукасевич. Финансовый менеджмент в 2 частях. Часть 1. Основные понятия, методы и концепции. Учебник и практикум для бакалавриата и магистратуры. – М.: Юрайт, 2017. – 378 с.
    

Образцы работ

Задайте свой вопрос по вашей теме

		Гладышева Марина Михайловна marina@studentochka.ru +7 911 822-56-12 с 9 до 21 ч. по Москве.