Основы анализа поверхности и тонких пленок Год выпуска: 1989Автор: Л. Фелдман, Д. МайерИздательство: МирСтраниц: 344ISBN: 5-03-001017-3, 0-444-00989-2Описание Монография, написанная известными американскими специалистами в области атомных столкновений в твердых телах, посвящена физическим основам и методам использования пучков ионов, электронов и рентгеновского излучения для анализа структуры и состава тонких пленок вещества. Эти методы играют важную роль в развитии современной атомной технологии, особенно в области микроэлектроники. Все вопросы изложены на высоком научном уровне. Для специалистов, интересующихся проблемами анализа поверхности и тонких пленок, аспирантов и студентов.
Похожие книги
А.В. Ильичев. Основы анализа эффективности и рисков целевых программ. – М.: Научный мир, 2009. – 332 с. Н.М. Конопальцева, Е.Ю. Волкова, И.Ю. Крылова. Антропометрия индивидуального потребителя. Основы прикладной антропологии и биомеханики. Лабораторный практикум. – М.: Форум, Инфра-М, 2006. – 256 с. Н.С. Махова, О.Н. Поболь, М.И. Семин. Основы теории механизмов и машин. – М.: Владос, 2006. – 288 с. П.П. Кукин, В.Л. Лапин, Н.Л. Пономарев, Н.И. Сердюк. Безопасность жизнедеятельности. Безопасность технологических процессов и производств. Охрана труда. – М.: Высшая школа, 2009. – 336 с. О.Н. Чарыкова, З.Д. Попова, И.А. Стернин. Основы теории языка и коммуникации. – М.: Флинта, Наука, 2012. – 312 с. А.Н. Кузнецов. Методологические основы анализа функционирования и развития системы эксплуатации космических средств. – М.: Наука, 2002. – 180 с. И.П. Залетаев, В.А. Муравьев. Анализ проведения и планирование уроков физической культуры. – М.: Физкультура и спорт, 2005. – 256 с. Л.Фелдман, Д.Майер. Основы анализа поверхности и тонких пленок. – М.: Мир, 1989. – 344 с. А.И. Таганов, Д.В. Гильман. Методологические основы анализа и аттестации уровней зрелости процессов программных проектов в условиях нечеткости. – М.: Горячая Линия - Телеком, 2014. – 168 с. С.М. Вишнякова, В.И. Вишняков. Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом. – М.: МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2014. – 32 с. Н.Ф. Виноградова, В.И. Власенко, А.В. Поляков. Основы религиозных культур и светской этики. 4 класс. Учебник. В 2 книгах (комплект). – М.: Вентана-Граф, 2014. – 304 с. Н.Ф. Виноградова, В.И. Власенко, А.В. Поляков. Основы религиозных культур и светской этики. 4 класс. Учебник. В 2 книгах (комплект). – М.: Вентана-Граф, 2014. – 292 с. Орудж Ахмедов und Мамед Гусейналиев. Исследование тонких пленок PbS по эллипсометрическим методом. – М.: LAP Lambert Academic Publishing, 2014. – 56 с. Рафаил Юсупов, Зунг Тхе Динь und Саит Бахтеев. Оптимизация гидрохимического синтеза тонких пленок PbS. – М.: LAP Lambert Academic Publishing, 2014. – 52 с. Никитенков Н.Н. ТЕХНОЛОГИЯ КОНСТРУКЦИОННЫХ МАТЕРИАЛОВ. АНАЛИЗ ПОВЕРХНОСТИ МЕТОДАМИ АТОМНОЙ ФИЗИКИ. Учебное пособие для бакалавриата и магистратуры. – М.: Юрайт, 2016. – 202 с. И.В. Переездчиков. Анализ опасностей промышленных систем человек - машина - среда и основы защиты. Учебное пособие. – М.: КноРус, 2016. – 782 с. И.В. Переездчиков. Анализ опасностей промышленных систем человек - машина - среда и основы защиты. Учебное пособие. – М.: КноРус, 2016. – 782 с. Образцы работ
Задайте свой вопрос по вашей теме
Контакты
Поделиться
Мы в социальных сетях
Реклама
Отзывы
Светлана Здравствуй Алина! Я вчера получила работу. Спасибо, мне понравилась. Надеюсь, мой научный руководитель тоже ее оценит. Ты действительно очень помогла мне. Надеюсь, что на этом наше знакомство не закончится.
