Год выпуска: 2012 Автор: Светлана Ярмолик, Артем Занкович und Александр Иванюк Издательство: LAP Lambert Academic Publishing Страниц: 312 ISBN: 9783659105098
Описание
Монография написана на основании результатов научных исследований проводимых НИЛ 3.3 Белорусского государственного университета информатики и радиоэлектроники. Первые две главы посвящены анализу существующих методов тестирования современных ОЗУ. Показывается, что безальтернативным решением является применение неразрушающих маршевых тестов реализуемых в процедурах самотестирования ОЗУ. В третьей главе представлены результаты развития теории адаптивного сигнатурного анализа как универсального метода определения эталонных характеристик для произвольного теста и объекта тестирования – ОЗУ. Четвертая и пятая главы содержат материал, относящийся к симметричным маршевым тестам. Последующие три главы касаются вопросов многократного тестирования ОЗУ с применением маршевых тестов. Целевыми неисправностями при реализации тестов произвольной кратности являются кодочувствительные неисправности, которые описывают практически все множество возможных физических дефектов ОЗУ. Последняя глава содержит...
Добрый день! Хочу сказать Марине огромное спасибо за оперативное выполнение заказа - мне необходима была рецензия на дипломную работу. Рецензию я получила уже на следующий день, причем за дешевую цену - всего 500 рублей. Спасибо!