Год выпуска: 2012 Автор: Ами Городецкий Издательство: Palmarium Academic Publishing Страниц: 308 ISBN: 9783847393245
Описание
Монография является первым и пока единственным на русском языке систематическим изложением одного из наиболее востребованных направлений структурного тестирования в современной электронике – технологий граничного сканирования (JTAG) и тестопригодного проектирования (DFT), а также внутрисхемного тестирования (ICT), и в равной степени может служить как учебником для студентов и преподавателей инженерных, электронных и компьютерных специальностей университетов и колледжей с преподаванием соответствующих курсов, так и справочником для инженеров и техников, работающих в промышленности высоких технологий. Книга охватывает введение в стандарты цифрового IEEE (1149.1) и аналогового (1149.4) граничного сканирования, расширение этого стандарта на дифференциальные LVDS-цепи (1149.6), новый двухконтактный JTAG стандарт 1149.7, внутрисхемное конфигурирование ПЛМ и FPGA, структуры СнК и новейший стандарт тестопригодного проектирования микросхем Р1687. В книге сделан обзор наиболее распространенных...
Марина Михайловна, хочу выразить вам огромную благодарность за дипломную работу после вашего сопровождения. Моему профессору она очень понравилась, принял ее почти в таком виде как вы советовали, с незначительным редактированием содержания, которое я сделала сама.