Книга содержит детальное изложение практической части элементов геометрической кристаллографии: 1) методику определения симметрии; 2) вычисление констант кристалла и индексов графическим методом при помощи сетки Вульфа; 3) технику измерения кристаллов на однокружном и теодолитном гониометрах. Более кратко даны: изложение методики определения симметрии из рентгенограмм типа Лауэ, способ определения межплоскостных расстояний и техника черчения ортогональных проекций. Для главных отделов приведены краткие теоретические дополнения. Для самостоятельных упражнений даны задачи на вычисление и на определение симметрии. Книга предназначена для студентов геолого-разведочных факультетов и вузов, где проходится полный курс кристаллографии, а также для инженерно-технического персонала, желающего повысить свою квалификацию в этой области.
Светлана, сегодня я защитила работу после вашего сопровождения!! Препод меня помучил, немного попридирался, но потом поставил отлично!! Я Вам так за все благодарна!! Огромное Вам спасибо за терпение и профессионализм! С Вами было очень приятно работать. Всего Вам самого лучшего и еще раз спасибо!! С уважением и благодарностью, Наталья.