Книга содержит детальное изложение практической части элементов геометрической кристаллографии: 1) методику определения симметрии; 2) вычисление констант кристалла и индексов графическим методом при помощи сетки Вульфа; 3) технику измерения кристаллов на однокружном и теодолитном гониометрах. Более кратко даны: изложение методики определения симметрии из рентгенограмм типа Лауэ, способ определения межплоскостных расстояний и техника черчения ортогональных проекций. Для главных отделов приведены краткие теоретические дополнения. Для самостоятельных упражнений даны задачи на вычисление и на определение симметрии. Книга предназначена для студентов геолого-разведочных факультетов и вузов, где проходится полный курс кристаллографии, а также для инженерно-технического персонала, желающего повысить свою квалификацию в этой области.
Спасибо за столь доброе отношение к нам простым смертным :-), горе-студентам или, еще можно сказать- вечным студентам, которые не помнят, когда начали это свое "высшее", но уже до зеленой тоски опостылевшее, образование.