Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов
Год выпуска: 2011 Автор: Б. Фульц, Дж. М. Хау Издательство: Техносфера Страниц: 904 ISBN: 978-5-94836-291-5, 978-3-540-43764-2 Описание В третьем издании книги представлены новые достижения в области микроскопии и экспериментальных методов дифракции. Новое издание увеличилось на одну главу. Внесены существенные изменения в главы 1, 3, 7, 8 и 9. Текст полностью отредактирован для большей ясности изложения и исправления недостатков, обнаруженных в ходе преподавания. Книга представляет интерес для ученых, инженеров и преподавателей высшей школы, аспирантов и студентов профильных вузов.
Похожие книги
А.С. Неверов, Д.А. Родченко, М.И. Цырлин. Коррозия и защита материалов. – М.: Вышэйшая школа, 2007. – 224 с. А.И. Аркуша. Техническая механика. Теоретическая механика и сопротивление материалов. – М.: Высшая школа, 2008. – 352 с. Ф.И. Вайсбурд, Г.А. Панаев, Б.Н. Савельев. Электронные приборы и усилители. – М.: Либроком, 2009. – 474 с. Р.Ф. Эгертон. Физические принципы электронной микроскопии. – М.: Техносфера, 2010. – 304 с. Сборник нормативных документов и методических материалов. – М.: Владос, 2000. – 192 с. И.Я. Клинов. Коррозия химической аппаратуры и коррозионностойкие материалы. – М.: Государственное научно-техническое издательство машиностроительной литературы, 1954. – 408 с. В.И. Горячев, В.А. Неелов. Облицовка керамическими и синтетическими материалами. – М.: Высшая школа, 1989. – 224 с. Д.Синдо, Т.Оикава. Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия. – М.: Техносфера, 2006. – 256 с. А.И. Земсков, Я.Л. Шрайберг. Электронная информация и электронные ресурсы. – М.: ФАИР, 2007. – 528 с. Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ. – М.: Техносфера, 2009. – 208 с. Бородулин В.Н., Воробьев А.С., Матюнин В.М. и др. Электротехнические и конструкционные материалы. – М.: Мастерство, Высшая школа, 2001. – 280 с. Ю.А. Быстров, С.А. Гамкрелидзе, Е.Б. Иссерлин, В.П. Черепанов. Электронные приборы и устройства на их основе. Справочная книга. – М.: РадиоСофт, 2002. – 656 с. Б.Фульц, Дж. М.Хау. Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов. – М.: Техносфера, 2011. – 904 с. А.С. Неверов, Д.А. Родченко, М.И. Цырлин. Коррозия и защита материалов. – М.: Инфра-М, Форум, 2013. – 224 с. А.И. Аркуша. Техническая механика. Теоретическая механика и сопротивление материалов. – М.: Либроком, 2014. – 354 с. И.А. Аркуша. Техническая механика. Теоретическая механика и сопротивление материалов. Учебник. – М.: Либроком, 2015. – 354 с. А.А. Ищенко, Г.В. Гиричев, Ю.И. Тарасов. Дифракция электронов. Структура и динамика свободных молекул и конденсированного состояния вещества. – М.: ФИЗМАТЛИТ, 2013. – 616 с. Образцы работ
Задайте свой вопрос по вашей теме
Контакты
Поделиться
Мы в социальных сетях
Реклама
Отзывы
Инна Консультацию получила. Спасибо!