Год выпуска: 2002 Автор: Д. К. Боуэн, Б. К. Таннер Издательство: Наука Страниц: 274 ISBN: 5-02-024963-7
Описание
В монографии английских ученых освещены основы теории и практики современных неразрушающих рентгеновских методов исследования и контроля реальной структуры материалов электронной техники. Объединены высокоразрешающая дифрактометрия и топография, которые особенно эффективно используются совместно, охвачены все аспекты их применения. Особое внимание уделено интерпретации дифракционных данных и изображений дефектов в кристаллах, а также современной технике исследований, включая использование сверхмощных источников синхротронного излучения. Для научных работников, инженеров, преподавателей и студентов, специализирующихся в области материаловедения, кристаллофизики и технологии материалов электронной техники.
Добрый день, Юля! Я сегодня защитила диплом на отлично :-) Хотела сказать Вам ОГРОМНОЕ спасибо за помощь! Вы мне помогали с написанием курсовых работ на протяжении всего срока моего обучения. Без Вашего участия мне было бы в сто раз труднее, ведь я работаю и времени на написание курсовых и диплома всегда катастрофически не хватало. Так что в том, что я закончила этот университет есть большая доля и вашего участия. Ещё раз огромное Вам за это спасибо! Будьте счастливы и удачи Вам! При случае, буду рекомендовать Вас своим знакомым, кому понадобятся подобные услуги ;-)